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Design for Yield and Reliability for Nanometer CMOS Digital Circuits: Statistical design, Soft errors modeling, Adaptive body bias, Negative capacitance circuits
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- Technologie - Elektrotechnik - Elektronik |
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| Farben
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| Tags | Design for Yield and |
| Bezeichner | |
| ISBN | 365951361X |
| ID | 13042784 |
| Abmessungen / Gewicht | |
| Hauptmerkmale | |
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