Design-for-Test and Test Optimization Techniques for TSV-based 3D Stacked ICs
(9783319023779 / 18 black & white illustrations, 115 colo)
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| Farben
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| Tags | Design-for-Test and |
| Bezeichner | |
| Marke | Brandon Noia |
| MPN | Brandon Noia 18 black & white illustrations, 115 colo |
| ISBN | Brandon Noia 3319023772 |
| ID | 12053458 |
| Abmessungen / Gewicht | |
| Hauptmerkmale | |
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