Fringe Pattern Analysis for Optical Metrology: Theory, Algorithms, and Applications
Wiley-Vch (9783527411528) | Phase shifting, Analysis for optical metrology, Optical metrology
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| Colores
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| Tags | Phase shifting Analysis for optical metrology Optical metrology |
| Identificadores | |
| Marca |  Wiley-Vch es una marca de libros científicos y técnicos. |
| ID | 23871002 |
| Dimensiones / Peso | |
| Características principales | |
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